以粒度為橫坐標(biāo)，以顆粒單位粒徑寬度內(nèi)的顆粒含量（體積含量、個(gè)數(shù)含量、表面積含量等）為縱坐標(biāo)，繪出的曲線稱為粒度分布曲線（又稱頻率分布）。如果縱坐標(biāo)采用某一粒度下顆粒的累積含量則繪出的曲線稱為累積分布曲線（又稱積分分布）。需要注意的顆粒含量有多種不同的意義，它們之間差別很大。常用的是體積含量，因此稱為體積粒度分布曲線。

為了更簡(jiǎn)單地描述納米激光粒度儀顆粒的粒度分布，常選取累積分布曲線上的3個(gè)點(diǎn)描述顆粒群的分布特征，如D50,D10,D90,它們分別表示累積分布為50%，10%和90%的粒徑大小。單位為微米。其中D50又常被稱為中值粒徑（中位徑）用途廣。平均徑，比表面積，或其他統(tǒng)計(jì)粒徑也可以表示顆粒群體的大小分布特征。使用以上粒徑是還需注意顆粒含量的基準(zhǔn)是體積還是個(gè)數(shù)抑或是其他計(jì)量單位。

判斷納米激光粒度儀光路系統(tǒng)是否正常的依據(jù)

（1）首先觀察激光粒度分析軟件中的背景，中心環(huán)高度應(yīng)在規(guī)定范圍內(nèi)；第二環(huán)高度應(yīng)略低于環(huán)；以后各環(huán)高度應(yīng)平滑連續(xù)；整個(gè)背景各環(huán)信號(hào)無(wú)明顯波動(dòng)。

（2）其次，加入待測(cè)樣品，觀察儀器能譜信號(hào)是否響應(yīng)快，能譜連續(xù)，無(wú)異常波動(dòng)跳變。

（3）對(duì)于配有自檢系統(tǒng)的儀器，自檢系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)檢測(cè)儀器狀態(tài)，并給出操作提示。